info@alemtrade.com
Республика Казахстан, г.Алматы, ул.Мауленова, 129 (цокольный этаж)
Шероховатость поверхности

Анализатор шероховатости поверхности SRA

По запросу

  • Категория: Шероховатость поверхности

Независимо от того, должна ли ваша поверхность быть очень гладкой, иметь определенную текстуру или степень шероховатости, наш анализатор шероховатости поверхности SRA поможет вам оптимизировать материал или производственный процесс. Бесконтактный, быстрый и с чрезвычайно высоким разрешением SRA дает вам трехмерное изображение поверхности вашего образца и предоставляет вам данные, которые точно описывают его топографию. Анализы с помощью SRA помогают оценить вклад шероховатости в смачиваемость образца или в адгезию покрытий. 

 

Применение

  • Покрытия и другие модификации поверхности

  • Биосовместимость имплантатов

  • Процессы склеивания

  • Строительство и строительный материал

  • Оценка того, как шероховатость поверхности влияет на смачиваемость

 

Измерение результатов

  • Отображение топографии образцов в широком масштабе от шероховатости поверхности до формы целых заготовок

  • Расчет параметров образца, таких как размеры, углы, радиусы

  • Большое количество поверхностей и профилей

  • Анализы в соответствии с различными стандартами, такими как ISO 25178

  • Коэффициент шероховатости по Венцелю

  • Прямая оценка данных в дополнительном программном обеспечении MountainsMap®

 

Технические инновации для точности и скорости

SRA использует метод конфокальной микроскопии для создания пространственного представления поверхности. Это происходит путем наложения слоев 2D-изображений, каждое из которых имеет очень маленькую глубину резкости, при опускании оптики с чрезвычайно малыми приращениями, что приводит к разрешению по высоте до 10 нанометров. Для сканирования области образца обычные конфокальные микроскопы используют вращающийся диск с точечным отверстием для создания изображения на каждом уровне высоты. Диск внутри SRA имеет микролинзы, а не просто отверстия, что увеличивает светоотдачу и позволяет анализировать поверхности с низким коэффициентом отражения или даже прозрачные. Для стандартной версии SRA для вертикального перемещения измерительной головки используется ультразвуковой вместо обычного пьезопривода. Таким образом, при сочетании скорости с высоким разрешением обычный диапазон высот измерения значительно превышается. Для решения широкого круга задач, от анализа шероховатости до визуализации точной формы целых изделий, таких как винты или зубные имплантаты, линзы с увеличением от 2,5 до 100-кратного можно быстро и легко заменять. SRA также доступен в версии SRA Basic для менее частых измерений, когда не требуются максимальная скорость и разрешение.

                                                                                                             Диск с микролинзами

                                                                                        Топографический 3D-анализ того же диска микролинз

РАЗМЕРЫ ИНСТРУМЕНТА

Площадь 420 мм × 330 мм
Высота 660 мм
Вес (без аксессуаров) 30 кг

 

ИСТОЧНИК ПИТАНИЯ

Напряжение от 90 до 264 В переменного тока
Потребляемая мощность 250 Вт
Частота от 47 до 440 Гц

 

РАЗМЕР ОБРАЗЦА

Максимальный размер выборки ∞ мм × 200 мм × 200 мм

 

ОКРУЖАЮЩАЯ ОБСТАНОВКА

Рабочая температура от 15 до 40 °С
Влажность от 20 до 85% отн.

 

ИНТЕРФЕЙСЫ

ПК USB 3.0

 

ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ

Тип программного обеспечения опционально: MountainsMap®
Доступные программные модули itom для профилей поверхности, параметры шероховатости MountainsMap®: визуализация топографии, анализ контуров, расширенный анализ контуров, расширенная топография, Фурье и вейвлеты

 

АНАЛИЗИРУЕМЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Топография фильтр пиков
медианный фильтр
фильтр Гаусса
значения отсечения вырезают границы интересующей области значения зеркального отражения/поворота
заполняют недопустимые пиксели
высота шага
Связанный с поверхностью параметры волнистости: Wa, Wq, WZ10, Wv, Wp, Wz, Wku, Wsk, Wdr
параметры шероховатости: Sa, Sq, SZ10, Sv, Sp, Sz, Sku, Ssk, Sdr
коэффициент шероховатости r
Связанные с профилем параметры волнистости: Wa, Wq, Wz, Wp, Wv, Wt, Wsk, Wku, Wdq, Wda, Wdc
параметры шероховатости: Ra, Rq, Rz, Rp, Rv, Rt, Rsk, Rku, Rdq, Rda, Rdc

 

СИСТЕМА КАМЕРЫ (СТАНДАРТНАЯ)

Связь USB 3.0
Производительность 60 кадров в секунду при разрешении 1280 × 1024 пикселей

 

ОСВЕЩЕНИЕ

Тип лазерный диод
Длина волны, доминирующая 450 нм

 

ОПТИКА (СТАНДАРТНАЯ)

Поле зрения от 0,2 мм × 0,16 мм до 8,0 мм × 6,4 мм
Разрешение оптики латеральное, по пикселям: от 0,16 мкм до 6,25 мкм
осевое: от 10 нм до 2,6 мкм

 

ЭТАПЫ

x-позиционирование опционально: автоматический, от 25 мм до 100 мм
xy-позиционирование дополнительно: автоматический, 75 мм × 75 мм

 

ОПТИКА

Увеличение объектива опционально: номинальное увеличение от 2,5× до 100×

 

СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ВЫСОТЫ

Максимум. измерение скорости (ось Z) до 30 шагов в секунду
Z-позиционирование автоматический ультразвуковой привод: 20 мм
ручной: 250 мм