Электронные микроскопы Hitachi SU3800/3900

Сканирующие Микроскопы

Электронные микроскопы Hitachi SU3800/3900

По запросу

Категория: Сканирующие Микроскопы

Описание
Характеристики

Модель SU3800, как и его более вместительная версия SU3900, является универсальным стандартом семейства Hi-SEM Hitachi.

SU3800 идеально подходит как для заводских лабораторий, сталкивающихся с широким спектром потребностей приложений: от исследований и разработок до мониторинга производства, анализа отказов и контроля качества, так для применения в научных исследования институтов РАН и ВУЗов.

Большая аналитическая камера образцов вмещает объекты диаметром до 200 мм (до 300 мм для SU3900) и высотой 80 мм (до 130 мм для SU3900).

Аналитические возможности high-end класса и возможности расширения в будущем обеспечены 14 (20 для SU3900) доступными портами камеры образцов, включая 4x EDX, EBSD, WDX и др.

Как и все Hi-SEM, SU3800 предлагает в качестве стандарта, кроме классического режима высокого вакуума, режим переменного давления (UVD-детектор) для визуализации и анализа непроводящих образцов без необходимости нанесения проводящего покрытия.

SE и 5-сегментные BSE-детекторы являются стандартными. Многочисленные дополнительные опции доступны для визуализации, автоматизации и анализа.

Разрешение	полученное во вторичных электронах 3,0 нм при 30 кВ (высокий вакуум), 15,0 нм при 1 кВ (высокий вакуум) в обратно-рассеянных электронах 5,0 нм при 20 кВ (низкий вакуум)
Электронная оптика	Ускоряющее напряжение 0,3 кВ — 30кВ Увеличение приборное 5x — 300 000x На экране монитора 7х — 800 000x
Столики камер наблюдения	SU3800: Х: 0-100 мм, Y: 0 — 50 мм,Z: 5 — 65 мм Вращение: 360° Наклон: от -20° до +90° SU3900: Х: 0-150 мм, Y: 0 — 150 мм, Z: 5 — 85 мм Вращение: 360° Наклон: от -20° до +90°
Максимальный размер образца	Диаметр: 200 мм (SU3800),300 мм (SU3900) Высота: 80 мм (SU3800),130 мм (SU3900) До 600 бар Изократический
Максимальный вес образца	2кг (SU3800) 5 кг (SU3900)