info@alemtrade.com
Республика Казахстан, г.Алматы, ул.Мауленова, 129 (цокольный этаж)
Микроскоп Leica DM3 XL предназначен для контроля качества в области микроэлектроники, в том числе кремниевых пластин. Простой и надежный инструмент для быстрого инспектирования полупроводниковых образцов. Максимальное поле зрения 35.7 мм. Большой ход механического столика обеспечивает размещение образцов диаметром до 150 мм. Дополнительный режим косого освещения позволяет более детально изучить топографию вашего образца. Цветовое кодирование апертурной диафрагмы помогает пользователю работать с наиболее оптимальными настройками для выбранного объектива.
Увеличение: от 7 крат до 3000 крат
Режим работы: отраженный и проходящий свет
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, косое освещение
Ход предметного столика по XY: 150х150 мм
Ход фокусировки по Z: 25 мм;
Источник освещения: Светодиодный белый
