info@alemtrade.com
Республика Казахстан, г.Алматы, ул.Мауленова, 129 (цокольный этаж)
Рентгеновские дифрактометры

Рентгеновский дифрактометр NANO-Viewer

Прибор рентгеноструктурного анализа нанометрового масштаба NANO-Viewer

По запросу

  • Категория: Рентгеновские дифрактометры

Благодаря нанотехнологиям в различных областях деятельности стали находить применение такие новые материалы, как геномы (белки), полупроводниковые материалы, высокополимерные материалы, экологические материалы и т.д. Прибор рентгеноструктурного анализа NANO-Viewer (измерительный прибор малоуглового рентгеновского рассеяния) осуществляет характеризацию этих передовых материалов, начиная с молекулярного уровня (1 нм ~ 100 нм макроструктуры) и кончая атомным уровнем (0.2 нм ~ 1 нм микроструктуры).

 

 

 

 

 

 

Области применения

Материаловедение. Рутинный анализ     

  • Университеты
  • Институты академии наук
  • Фармацевтика
  • Цементная промышленность
  • Химическая промышленность 
  • Нефтегазовая промышленность
  • Геология и менералогия
  • Добыча и обогащение
  • Черная и цветная металлургия 
  • Экспертиза и криминалистика

 

Спецификация и характеристики прибора

  • Наблюдая изменение структуры под воздействием температуры, влажности и магнитного поля, можно охарактеризовать функциональные свойства материалов. Например, можно охарактеризовать структуру ионообменной мембраны топливного элемента (температура и влажность), жидких кристаллов (температура и магнитное поле), сополимеров высокополимерных материалов (температура и концентрация) и т.д.
  • Стала возможной трудноосуществимая предыдущими лабораторными приборами характеризация функциональных свойств биоматериалов, характеризация тонких пленок в плоскости методом малоуглового рассеяния, характеризация самоорганизации ультрамалых частиц.
  • Благодаря точечно - конвергирующей Confocal Max-Flux (CMF) Optic оптике с фокусирующим рентгеновское излучение зеркалом (многослойным пленочным зеркалом), получают чистое входящее рентгеновское излучение высокой интенсивности от 3×107 до 6×108 импульсов в секунду (cps) (интенсивность меняется в зависимости от вида щели).
  • Юстировка CMF Optic точечно - конвергирующей оптики очень проста. Для проведения измерения в идеальных условиях достаточны 2 настройки: перемещение вперед и назад вдоль оси и изменение угла входящего пучка (θ).
  • Поскольку образец располагается вблизи точки схождения, площадь экспозиции рентгеновского излучения мала, поэтому можно проводить измерения даже малых образцов. Даже капиллярные и т.д. образцы, образцы в кюветах, для которых важна малая площадь экспозиции рентгеновского излучения, измеряются без потери интенсивности.
  • Длина камеры (расстояние от образца до детектора) в зависимости от растяжения или сжатия металлической гофрированной оболочки (изменение длины вакуумного прохода) может меняться от 400 мм до 700 мм.
  • Диапазон измерений: возможно проведение измерений от малого угла 2θ=0.07°(q=0.05 нм-1)до широкого угла 2θ=45°(q=31.21 нм-1).
  • Чтобы избежать воздушного рассеивания, рассеивания от вакуумной экранной мембраны, систему щелей, образец и даже детектор полностью помещают в вакуум.