NANOPIX

Новая система от компании Rigaku для SAXS/WAXS – NANOPIX представляет собой рентгеновский дифрактометр специально разработанный для изучения и анализа наноструктур. NANOPIX может быть использован как малоугловой дифрактометр для анализа малоуглового рассеяния (SAXS), так и для рассеяния на широких углах (WAXS), что позволяет оценивать многомасштабные структуры от суб-нанометровых до нано-метровых объектов (от 0,1 до 100 нм). Инструмент позволяет достигать наивысшего уровня углового разрешения (Q_min до 0,02 нм^-1) среди лабораторных SAXS инструментов на сегодняшний день.

Малоугловое рентгеновское рассеяние (SAXS)

Малоугловое рассеяние это когерентное диффузное рассеяние монохроматических рентгеновских лучей вблизи первичного пучка на апериодических флуктуациях электронной плотности в материалах. Техника малоуглового рассеяния используется для изучения наномасштабных атомных структур или молекул, а так же определения неоднородностей в их строении.

Области применения SAXS/WAXS измерений

Аналитическая измерительная система NANOPIX SAXS/WAXS применима для широкого разнообразия типов материалов, таких как: конденсированные материалы, жидкости, жидкие кристаллы или гели (с упорядоченными и неупорядоченными структурами). В аналитические возможности NANOPIX входят: анализ распределения наночастиц и пор по размерам, трехмерный анализ структуры белковых молекул, идентификация молекулярной сборки/разборки, исследование перспективных и передовых материалов, например пластмассы, армированные углеродным волокном (CFRP).

Сверхвысокая производительность SAXS/WAXS

Измерительная система NANOPIX оборудована высоко ярким и высокомощным микрофокусным рентгеновским источником, высокопроизводительным многослойным оптическим зеркалом OptiSAXS, мало рассеивающими коллимационными щелями ClearPinhole и 2D полупроводниковым детектором HyPix-3000, позволяющий регистрировать дифракцию и рассеяние даже от анизотропных материалов. Для проведения измерений по рассеянию на широких углах опционально доступен детектор HyPix-6000, преимуществами которого является расширенная рабочая область детектора путем объединения двух детектирующих модулей. Одной из главных особенностей конструкции прибора является возможность варьировать расстояние между детектором и образцом, в зависимости от размеров изучаемой структуры, которые меняются от атомной структуры (микроструктуры: 0,2 – 1 нм) до молекулярной структуры (макроструктуры: 1 – 100 нм).

Широкий выбор экспериментальных условий для SAXS/WAXS измерений

NANOPIX позволяет проводить измерения при различных внешних условиях в камере образца, включая температуру и влажность, одновременное проведение ДСК измерений, а так же измерения в комбинации с множеством других внешних устройств и приставок. Контроль и управление внешними условиями во время проведения измерений является основополагающим и решающим фактором в изучении взаимосвязи между структурой и свойствами функциональных материалов.

Области применения Материаловедение. Рутинный анализ      Университеты Институты академии наук Фармацевтика Цементная промышленность Химическая промышленность  Нефтегазовая промышленность Геология и менералогия Добыча и обогащение Черная и цветная металлургия  Экспертиза и криминалистика