Воспроизводимый означает надежный
В таких приложениях, как оценка включений стали, анализ частиц, фазовый анализ или анализ зерен, воспроизводимость имеет большое значение. Вы можете положиться на микроскопические системы Leica DM4 M и Leica DM6 M, чтобы получить воспроизводимые результаты. Всегда!
-
Экономьте драгоценное время: с помощью Illumination Manager и Contrast Manager микроскоп автоматически распознает выбранный метод контрастирования и используемый объектив, точно открывает и закрывает апертуру и полевую диафрагму, а также адаптирует интенсивность света.
-
Делитесь и сравнивайте свои результаты — в любое время и в любом месте! Сохраняйте и вызывайте настройки микроскопа и параметры камеры с помощью Leica Microscope Assistant (модуль Leica LAS Store and Recall). Они сохраняются и архивируются вместе с изображениями и могут быть восстановлены в любое время.
Выберите необходимые компоненты
Выберите свою персональную систему анализа изображений, соответствующую вашим требованиям:
Программная платформа Leica Application Suite X (LAS X) объединяет микроскоп, программное обеспечение и камеру в один пакет, уделяя особое внимание эффективности каждого аспекта интерфейса, функциональности и рабочего процесса.
С Leica DM6 M вы можете использовать дополнительные модули, такие как Steel Expert, Cleanliness Expert, Grain Expert и Phase Expert.
Торопиться!
Ускорьте свой рабочий процесс с помощью сенсорного экрана Leica SmartTouch или свободно программируемых функциональных кнопок на Leica DM6 M, а также на пульте дистанционного управления Leica SmartMove.
Работайте с Leica DM4 M удобно и быстро: на четком дисплее отображаются все настройки микроскопа. Шесть функциональных клавиш обеспечивают легкий доступ к часто используемым функциям, не отрывая взгляда от образца.
Включи свет!
Светодиодная подсветка способствует воспроизводимости результатов независимо от того, работаете ли вы со светлым полем (BF), высокодинамичным темным полем (HDF), дифференциально-интерференционным контрастом (DIC), флуоресценцией (FL) или поляризацией (POL).
-
Просматривайте образец с постоянной цветовой температурой при любых настройках микроскопа: нет необходимости перезагружать камеру каждый раз при изменении яркости или регулировке баланса белого.
-
Обнаружьте больше несовершенств и дефектов на вашем образце, выбрав один или несколько доступных методов контрастирования.
-
Энергоэффективность и экономичность: светодиодная подсветка экономит энергию, а срок службы до 72 000 часов позволяет забыть о замене лампы, приводящей к простою микроскопа.
Выберите систему, которая подходит вам лучше всего
Нужен ли вам микроскоп для быстрого обзора вашего образца или детального осмотра –
Вертикальные микроскопы Leica DM4 M и Leica DM6 M всегда помогут вам с правильными настройками.
Вам нужен микроскоп для ручного рутинного осмотра?
Leica DM4 M — это система рутинной проверки с ручным кодированием.
-
Ручной двухступенчатый привод фокусировки
-
Кодированная 6-кратная или 7-кратная револьверная головка объектива
-
Ручной столик с 3 пластинами эргономично расположен, программируемые кнопки
-
Менеджер освещения
-
Менеджер контраста
-
Светодиодная подсветка для всех режимов контрастности
-
Режимы контраста: светлое поле, темное поле, дифференциальный интерференционный контраст, поляризация, флуоресценция
Вам нужен микроскоп для полностью автоматизированного анализа материалов?
Leica DM6 M — это система контроля высочайшей точности и воспроизводимости.
-
Моторизованный высокоточный двухступенчатый привод фокусировки
-
Моторизованная 6-кратная или 7-кратная револьверная головка объектива
-
Ручной или моторизованный столик сканирования
-
Сенсорный экран
-
Менеджер освещения
-
Менеджер контраста
-
Светодиодная подсветка для всех режимов контрастности
-
Режимы контраста: светлое поле, темное поле, дифференциальный интерференционный контраст, поляризация, флуоресценция
-
В сочетании с LAS X также доступен автофокус.
Для визуального и химического анализа вы можете дооснастить свой составной микроскоп DM6 M системой LIBS , а затем получить решение 2-в-1 для быстрого и точного анализа материалов.