Получите максимальную точность и воспроизводимость

Независимо от того, работаете ли вы на производстве или в исследованиях, DCM8 обеспечивает точные воспроизводимые результаты метрологического анализа, необходимые для оптимизации характеристик материала.

• Ваша поверхность имеет крутые склоны или сложные формы? Достигните вертикального разрешения до 2 нм с помощью конфокальной микроскопии высокой четкости.
• Ваша поверхность гладкая с микровыпуклостями и впадинами? Выберите один из трех режимов интерферометрии: интерферометрия с вертикальным сканированием (VSI), интерферометрия с фазовым сдвигом (PSI) или расширенный PSI (ePSI) для разрешения до 0,1 нм.
• Если вам нужно быстрое и яркое 2D-изображение HD, Leica DCM8 предлагает режимы светлого и темного поля.

Быстрое получение данных о поверхности

В трехмерном микроскопе для метрологии поверхностей DCM8 используется инновационная технология сканирования микродисплеев высокой четкости. Благодаря отсутствию движущихся частей в головке датчика гарантируется быстрый и воспроизводимый сбор данных.

Встроенная ПЗС-камера высокой четкости имеет большое поле зрения, позволяющее одновременно анализировать большую часть поверхности образца.

Чтобы получить бесшовную точную модель еще большей площади поверхности, просто выберите сверхбыстрый режим сшивки XYtopography.

Эффективно анализируйте результаты

Наше удобное программное обеспечение LeicaSCAN управляет DCM8. Программы рецептов, мультипробный и статистический анализ оптимизируют рабочий процесс. Вам нужно выполнять более сложные задачи 3D-измерений?

Тогда выберите наше программное обеспечение Leica Map с полным набором расширенных инструментов анализа. А если вашим приоритетом является 2D, пакет приложений Leica Application Suite еще больше расширяет измерительные возможности системы.