Тип
|
электронный с разверткой в проходящем свете
|
Применение
|
Для анализов
|
Метод наблюдения
|
BF-STEM, DF-STEM, на месте
|
Источник электронов
|
с холодной полевой эмиссией, с автоэлектронной эмиссией (эффект Шоттки)
|
Тип объектива
|
с корректором аберраций
|
Тип детектора
|
вторичных электронов
|
Другие характеристики
|
с цифровой камерой, высокое разрешение, высокая скорость, ультравысокое разрешение
|
Пространственное разрешение
|
0,1 нм, 0,14 нм, 0,2 нм
|
Увеличение
|
МАКС.: 10 000 000 ед.изм
МИН.: 100 ед.изм
|